Teknik Belgeler
Özellikler
Marka
Texas InstrumentsEleman Girişlerinin Sayısı
7
Yonga Başına Eleman Sayısı
1
Montaj Tipi
Yüzeye Monte
Paket Tipi
TSSOP
Pim Sayısı
48
Boyutlar
12.6 x 6.2 x 1.05mm
Uzunluk
12.6mm
Genişlik
6.2mm
Yükseklik
1.05mm
Maksimum Çalışma Besleme Gerilimi
3,6 V
Maksimum Çalışma Sıcaklığı
+85°C
Minimum Çalışma Besleme Gerilimi
3 V
Minimum Çalışma Sıcaklığı
-40°C
Çalışma Besleme Gerilimi Aralığı
3 → 3,6 V
Çalışma Sıcaklığı Aralığı
-40 → +85°C
Ürün Ayrıntıları
Addressable JTAG Port, Texas Instruments
The Texas Instruments SCANSTA111 extends the IEEE Std. 1149.1 test bus into a multi-drop test bus environment with the advantages of improved test throughput, and the ability to remove a board from the system whilst retaining test access to the remaining system modules. Each device supports up to three local IEEE 1149.1 scan rings which can be serially combined or accessed individually. A 32-bit TCK counter enables built-in self-test operations to be performed on one port while other scan chains are simultaneously tested.
Stok bilgileri geçici olarak kullanılamıyor.
Ayrıntılı bilgi için iletşime geçiniz
P.O.A.
38
P.O.A.
38
Teknik Belgeler
Özellikler
Marka
Texas InstrumentsEleman Girişlerinin Sayısı
7
Yonga Başına Eleman Sayısı
1
Montaj Tipi
Yüzeye Monte
Paket Tipi
TSSOP
Pim Sayısı
48
Boyutlar
12.6 x 6.2 x 1.05mm
Uzunluk
12.6mm
Genişlik
6.2mm
Yükseklik
1.05mm
Maksimum Çalışma Besleme Gerilimi
3,6 V
Maksimum Çalışma Sıcaklığı
+85°C
Minimum Çalışma Besleme Gerilimi
3 V
Minimum Çalışma Sıcaklığı
-40°C
Çalışma Besleme Gerilimi Aralığı
3 → 3,6 V
Çalışma Sıcaklığı Aralığı
-40 → +85°C
Ürün Ayrıntıları
Addressable JTAG Port, Texas Instruments
The Texas Instruments SCANSTA111 extends the IEEE Std. 1149.1 test bus into a multi-drop test bus environment with the advantages of improved test throughput, and the ability to remove a board from the system whilst retaining test access to the remaining system modules. Each device supports up to three local IEEE 1149.1 scan rings which can be serially combined or accessed individually. A 32-bit TCK counter enables built-in self-test operations to be performed on one port while other scan chains are simultaneously tested.